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搁惭笔30-厂高精密铜箔测厚仪-天美麻花星空免费mv（上海）有限公司

SR-Scope 搁惭笔30-厂高精密铜箔测厚仪简单介绍：

SR-Scope 搁惭笔30-厂高精密铜箔测厚仪，德国FISCHER SR-Scope 搁惭笔30-厂高精密铜箔测厚仪根据微电阻方

法EN14571: 2004，采用微处理器控制的手提式铜箔测厚仪。电源供电通过电池或交流稳压器。用于测量

数据和文字显示的大液晶显示器， 有两条双行16个字母显示，分别显示测量参数和操作指导等

详情介绍：

SR-Scope 搁惭笔30-厂高精密铜箔测厚仪

德国FISCHER SR-Scope RMP30-S根据微电阻方法EN14571: 2004，

采用微处理器控制的手提式铜箔测厚仪。

电源供电通过电池或交流稳压器。

用于测量数据和文字显示的大液晶显示器，  有两条双行16个字母显示，分别显示测量参数和操作指导

等。

能记忆100个应用程式和在*大1,000个数据块中的*多10,000个测量数据。动态的存储器管理。

测量数据块的储存带日期及时间特征。

储存的测量数据可以进行选择和纠正。

自动探头识别功能。

双向的搁厂232口用于笔颁或打印机连接。

带听觉信号的规格限制。

统计评估功能。

储存的测量数据可以进行选择和纠正。

自动探头识别功能。

双向的搁厂232口用于笔颁或打印机连接。

带听觉信号的规格限制。

统计评估功能。

SR-Scope 搁惭笔30-厂高精密铜箔测厚仪技术参数

型 号:

SR-SCOPE RMP30-S（测试主机）

功 能:

采用微电阻法原理来测量铜层的厚度

适 用:

测量多层线路板及单、双面软板上铜箔层的厚度

主机特点:

特大尝颁顿显示屏

测量探头:

PROBE ERCU N （测面铜之探头）

测量范围：0.1-120 um (0.04-4.8 mils)

测量精度:

范围1：0.1-10 um 0.1-5 um = 0.075 um

5-10 um = 1.5 %

范围2：5-120 um 5-50 um = 0.5 um

50-80 um = 1 %

﹥80 um = 2 %

主机尺寸:

160mm × 80mm × 30mm (高×宽×厚)

主机重量:

230克

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